一、核心定位与型号
品牌:ADCMT(爱德万,日本)
类型:5½ 位数字静电计(Electrometer)
核心配置:内置 ±200 V 可编程电压源(VSRM 功能)、ICV 积分法电流测量、GPIB / 处理器接口
核心用途:半导体器件 IV 测试、绝缘电阻 / 材料耐压评估、光电探测器暗电流测量、电容漏电检测、自动化产线 PASS/FAIL 判定
二、关键技术参数(核心规格)
| 测量功能 | 量程范围 | 最小分辨率 | 核心特点 |
|---|---|---|---|
| 直流电压 | 3 V ~ 200 V | 10 μV | 高输入阻抗,抗干扰 |
| 直流电流 | 30 pA ~ 30 mA | 1 fA | ICV 积分法,抗噪声、高速 |
| 电阻测量 | 3 kΩ ~ 200 GΩ | 10 mΩ | 常规测量 |
| 超高阻测量 | 可达 2×10¹⁷ Ω | — | VSRM 电压施加电阻测量 |
| 电荷测量 | 1 nC ~ 10 μC | 1 fC | 低泄漏,适合微小电荷检测 |
| 内置电压源 | ±200 V | 10 mV | 可编程,支持固定 / 线性 / 随机扫描 |
| 系统参数 | 规格 |
|---|---|
| 显示位数 | 5½ 位(最大读数 1,999,999) |
| 输入阻抗 | 电压测量:≥2×10¹⁴ Ω |
| 测量模式 | 单点、扫描(固定 / 线性 / 随机)、接触检查 |
| 通信接口 | 标配 GPIB,支持 TRIGGER/COMPLETE/INTERLOCK |
| 自动化功能 | 比较运算(PASS/FAIL)、处理器接口 |
| 供电 | AC 100~240 V,50/60 Hz |
三、核心功能与优势
fA 级微弱电流捕获:1 fA 分辨率 + ICV 积分法,抗电磁干扰,精准测量暗电流、漏电流。
内置 ±200 V 电压源:同步扫描测量,无需外接电源,简化 IV 测试系统搭建。
VSRM 超高阻测量:电压施加下可测至 2×10¹⁷ Ω,满足绝缘材料、高压器件评估需求。
接触检查功能:自动检测测试线、夹具与 DUT 的接触不良,提升产线测试可靠性。
自动化适配:GPIB + 触发 / 完成 / 联锁信号 + PASS/FAIL 判定,无缝接入产线自动化系统。
四、典型应用场景
半导体:MOSFET 漏电流、二极管反向漏电、晶圆绝缘特性、传感器暗电流测试
材料:绝缘材料体积 / 表面电阻、高压绝缘件耐压评估、聚合物介电特性
光电:光伏电池暗电流、光电探测器响应、LED 漏电检测
电子元件:电容漏电流、继电器绝缘电阻、高压连接器耐压测试
研发 / 产线:器件 IV 特性扫描、批量产品绝缘测试、自动化质检
五、同系列与替代选型参考
| 型号 | 核心差异 | 适用场景 |
|---|---|---|
| ADCMT 8252 | 内置 ±200 V,5½ 位,VSRM | 主流研发 / 产线,需电压源 + 超高阻 |
| ADCMT 8251 | 无内置电压源,5½ 位 | 仅需高精度测量,外接电源 |
| ADCMT 8340 | 6½ 位,更高精度,内置电压源 | 高端研发,超微弱信号测量 |
六、使用注意事项
接地与屏蔽:必须使用低噪声屏蔽线,确保系统良好接地,减少电磁干扰。
清洁与干燥:测量超高阻 / 微弱电流时,保持测试环境干燥,避免灰尘 / 湿气导致泄漏。
校准周期:建议每年校准一次,确保 fA/fC 级测量精度。
扫描模式:使用线性 / 随机扫描时,需根据 DUT 特性设置步长与延迟,避免瞬态冲击。