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产品简介:爱德万(ADCMT)高性能数字静电计ADCMT 8252

ADCMT 8252 是日本爱德万(ADCMT)推出的5½ 位高性能数字静电计,内置 **±200 V 可编程电压源 **,主打 **fA 级微弱电流、fC 级电荷、超高阻(含 2×10¹⁷ Ω)** 测量,专为半导体器件、新材料、绝缘材料、光电元件的高精度直流特性评估与自动化产线测试设计。

一、核心定位与型号

  • 品牌:ADCMT(爱德万,日本)

  • 类型:5½ 位数字静电计(Electrometer)

  • 核心配置:内置 ±200 V 可编程电压源(VSRM 功能)、ICV 积分法电流测量、GPIB / 处理器接口

  • 核心用途:半导体器件 IV 测试、绝缘电阻 / 材料耐压评估、光电探测器暗电流测量、电容漏电检测、自动化产线 PASS/FAIL 判定


二、关键技术参数(核心规格)

测量功能量程范围最小分辨率核心特点
直流电压3 V ~ 200 V10 μV高输入阻抗,抗干扰
直流电流30 pA ~ 30 mA1 fAICV 积分法,抗噪声、高速
电阻测量3 kΩ ~ 200 GΩ10 mΩ常规测量
超高阻测量可达 2×10¹⁷ ΩVSRM 电压施加电阻测量
电荷测量1 nC ~ 10 μC1 fC低泄漏,适合微小电荷检测
内置电压源±200 V10 mV可编程,支持固定 / 线性 / 随机扫描
系统参数规格
显示位数5½ 位(最大读数 1,999,999)
输入阻抗电压测量:≥2×10¹⁴ Ω
测量模式单点、扫描(固定 / 线性 / 随机)、接触检查
通信接口标配 GPIB,支持 TRIGGER/COMPLETE/INTERLOCK
自动化功能比较运算(PASS/FAIL)、处理器接口
供电AC 100~240 V,50/60 Hz

三、核心功能与优势

  1. fA 级微弱电流捕获:1 fA 分辨率 + ICV 积分法,抗电磁干扰,精准测量暗电流、漏电流。

  2. 内置 ±200 V 电压源:同步扫描测量,无需外接电源,简化 IV 测试系统搭建。

  3. VSRM 超高阻测量:电压施加下可测至 2×10¹⁷ Ω,满足绝缘材料、高压器件评估需求。

  4. 接触检查功能:自动检测测试线、夹具与 DUT 的接触不良,提升产线测试可靠性。

  5. 自动化适配:GPIB + 触发 / 完成 / 联锁信号 + PASS/FAIL 判定,无缝接入产线自动化系统。


四、典型应用场景

  • 半导体:MOSFET 漏电流、二极管反向漏电、晶圆绝缘特性、传感器暗电流测试

  • 材料:绝缘材料体积 / 表面电阻、高压绝缘件耐压评估、聚合物介电特性

  • 光电:光伏电池暗电流、光电探测器响应、LED 漏电检测

  • 电子元件:电容漏电流、继电器绝缘电阻、高压连接器耐压测试

  • 研发 / 产线:器件 IV 特性扫描、批量产品绝缘测试、自动化质检


五、同系列与替代选型参考

型号核心差异适用场景
ADCMT 8252内置 ±200 V,5½ 位,VSRM主流研发 / 产线,需电压源 + 超高阻
ADCMT 8251无内置电压源,5½ 位仅需高精度测量,外接电源
ADCMT 83406½ 位,更高精度,内置电压源高端研发,超微弱信号测量

六、使用注意事项

  1. 接地与屏蔽:必须使用低噪声屏蔽线,确保系统良好接地,减少电磁干扰。

  2. 清洁与干燥:测量超高阻 / 微弱电流时,保持测试环境干燥,避免灰尘 / 湿气导致泄漏。

  3. 校准周期:建议每年校准一次,确保 fA/fC 级测量精度。

  4. 扫描模式:使用线性 / 随机扫描时,需根据 DUT 特性设置步长与延迟,避免瞬态冲击。